Стереоскопическая проекция поликристаллического агрегата показывающего распространение полюсов или плоскостных нормалей, удельных кристаллических плоскостей с использованием осей образца как осей сравнения. Данные полюсов используются, чтобы характеризовать текстуру в поликристаллических материалах.